尊敬的各位老師、同學(xué)以及企業(yè)界同仁，
清源創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室測(cè)試中心現(xiàn)正式面向社會(huì)各界開放JEM-ARM300F2雙球差校正透射電子顯微鏡的測(cè)試服務(wù)。我們誠(chéng)摯歡迎各高校、科研院所與企業(yè)單位前來洽談合作、預(yù)約測(cè)試。
該球差電鏡具備卓越的原子級(jí)分辨能力（TEM信息分辨率50/60 pm，STEM信息分辨率53 pm），配備Clear View相機(jī)、SAAF全場(chǎng)相位襯度探測(cè)器、K3 IS直接電子探測(cè)相機(jī)及Gatan 1065 IS（EELS）系統(tǒng)等先進(jìn)探測(cè)附件，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料形貌、元素組成、價(jià)態(tài)、超高分辨結(jié)構(gòu)解析以及三維重構(gòu)，并支持電子束敏感材料的低損傷表征。同時(shí)，設(shè)備集成了多種原位樣品桿，可在熱、電及化學(xué)環(huán)境等多場(chǎng)耦合條件下，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料動(dòng)態(tài)演變過程的原位、實(shí)時(shí)觀測(cè)，為前沿材料機(jī)理研究與關(guān)鍵技術(shù)創(chuàng)新提供強(qiáng)有力的表征支撐。
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測(cè)試中心顯微平臺(tái)致力于構(gòu)建全面、先進(jìn)的多尺度分析能力。除球差校正電鏡外，平臺(tái)還配備場(chǎng)發(fā)射透射電鏡、聚焦離子束掃描電鏡、場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡及原子力顯微鏡等七臺(tái)（套）高端設(shè)備，可提供從微納尺度到原子級(jí)別的形貌觀察、結(jié)構(gòu)解析、成分分析以及微納加工等綜合表征服務(wù)。
我們期待通過設(shè)備共享與深度技術(shù)合作，與各界同仁攜手推動(dòng)材料科學(xué)領(lǐng)域的創(chuàng)新突破與產(chǎn)學(xué)研融合。
歡迎垂詢與預(yù)約！
球差預(yù)約聯(lián)系人：高老師/蔡老師；聯(lián)系電話：15524230879/18649755950
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地點(diǎn)：福建省泉州市泉港區(qū)前黃鎮(zhèn)學(xué)院路1號(hào)實(shí)驗(yàn)樓
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